Teardown enthüllt Gründe für die hohe Bruchfreudigkeit des Asus ROG Phone 6 Pro

Es war wohl keine große Überraschung für all jene, die mit der Geschichte des Asus ROG Phone 5 aus dem Vorjahr vertraut waren aber auch das ROG Phone 6 Pro (Asus ROG Phone 6 hier bei Amazon ab etwa 1.000 Euro erhältlich), das zumindest laut AnTuTu-Ranking aktuell schnellste Android-Phone, zerbrach kürzlich in den Händen des Durability-Testers und steht damit in der unrühmlichen Tradition einiger weniger Flaggschiff-Phones mit strukturellen Schwächen wie in diesem Jahr etwa auch das OnePlus 10T.

Im Rahmen des Teardowns (siehe Video unten) zeigt sich nun, dass Asus nach wie vor auf ein fünfteiliges Smartphone-Design mit doppelseitigem Mainboard in der Mitte und zwei Akkus links und rechts davon setzt. Bereits beim ROG Phone 5 führte dieser Aufbau nicht gerade zu Bestmarken in Sachen Gehäusestabilität was im Rahmen des Bend-Tests in ähnlicher Art und Weise auch beim Gaming-Flaggschiff Legion Phone Duel 2 von Lenovo zu beobachten war.

Insbesondere der zweite USB-C-Port an der Seite und der gegenüberliegende Power-Button in der Mitte führt ohne Versteifung des Rahmens offenbar zu einer strukturellen Schwäche, die bei Druckeinwirkung von außen leicht zu einem Gehäusebruch führt. In diesem Jahr verschärft Asus die Problematik potentiell noch durch eine Aussparung in der Mitte, die offenbar dazu dient, die Hitzeableitung in Richtung Rückseite zu verbessern. Abgesehen von der optimierbaren Gehäusestabilität kritisiert der Teardown-Experte auch das Fehlen von OIS bei allen Kameras im ROG Phone 6 Pro.